Научные результаты

Нанесение тонких пленок

Синтезированы и изучены структурные, рентгенооптические характеристики, временная и термическая стабильность Be/Al многослойных зеркал, оптимизированных на диапазон длин волн 17,1–30,4 нм

Спинтронные терагерцовые эмиттеры

Структуры сверхпроводник/нормальный металл с эффектом близости

Тонкопленочные солнечные элементы на основе металлопорфиринов

Тонкопленочные структуры на основе гибридных металл-галидных перовскитов

Туннельные магниторезистивные контакты CoFeB/MgO/CoFeB с магнетосопротивлением 200 % при комнатной температуре

Туннельные магниторезистивные контакты с барьером Al2O3

Управление взаимодействием Дзялошинского-Мории при помощи деформаций

Постростовая обработка структур

Варианты формирования вплавных омических контактов к легированным бором слоям, созданным в эпитаксиальных структурах CVD-алмаза

Вертикальное травление A3B5 материалов в хлорсодержащей плазме

Влияние постростового отжига на соотношение долей sp2- и sp3-связанного углерода в PECVD пленках алмазоподобного углерода

Влияние термического отжига на транспортные свойства низкобарьерных диодов Мотта Ti/AlGaN/GaN с приповерхностным поляризационно-индуцированным дельта-легированием

Высокоточная система с отверстиями заданных размеров для точного позиционирования и фиксации эпитаксиальных структур CVD-алмазов для проведения измерений

Глубокое и прецизионное травление кремния

Ионная полировка обеспечивает снижение эффективной шероховатости до σeff = 0.15 нм в диапазоне пространственных частот q = [2.5‧10⁻² – 6.3‧10¹ мкм⁻¹]

Ионное травление многослойных структур в масках оптических и электронных резистов для проведения транспортных исследований

Коррекция локальных ошибок формы обеспечивает точность формы 0.7 нм по параметру СКО для (рентгено)оптических элементов произвольной формы

Плазмохимическое травление монокристаллического алмаза

Полирующее травление поверхности монокристаллических алмазных подложек

Селективное вытравливание кремния из столбиков с нанокристаллическими алмазными стенками

Удаление остатков фуллереновой резистивной маски между элементами рисунка

Формирование антиотражающего слоя на поверхности кремния

Литография

Болометры на холодных электронах

Внешний эффект Холла в туннельных контактах

Изготовление одиночной приемной ячейки с болометрами на холодных электронах и СИС контактами

Изготовлены детекторы на основе YBCO джозефсоновских контактов с лог-периодическими антеннами

Локально деформированные Ge-микроструктуры

Магнитный переключатель терагерцового излучения

Мемристивные структуры

Микромосты с управляемым сверхпроводящим состоянием

Обратный эффект спин-холла

Планарные микрорезонаторы на основе гетероструктур HgCdTe

Спиновые волны в структурах на основе YIG

Топологический эффект Холла

Туннельные магниторезистивные контакты

Формирование пермаллоевых структур на пленках ЖИГ.

Формирование структур на диэлектрических подложках с металлическим покрытием

Диагностика структуры и состава

GIXRD анализ керамик и тонких пленок

Исследование транзисторных структур на основе AlGaN методами высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии, картирования обратного пространства и малоугловой рефлектометрии

Исследование элементного состава иглы глюкометра

Исследование элементного состава пленок магнитных диэлектриков

Качественный и количественный фазовый анализ для исследования химической кинетики в системе YAG-YAM-YAP

Количественный послойный анализ атомного состава полупроводниковых гетероструктур

Новый метод послойного анализа твердотельных гетероструктур с нанокластерами с использованием масс-спектрометрии кластерных вторичных ионов

Новый подход к анализу фазового состава углеродсодержащих материалов методом времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии

Определение параметров квантовых ям InGaAs в структурах HEMT транзисторов на основе A3B5

Определение параметров многослойных тонкопленочных SFS структур методом малоугловой рефлектометрии

Определение параметров структур квантово-каскадных лазеров методом высокоразрешающий рентгеновской дифрактометрии

Определение параметров структур кремний-на-изоляторе методами рентгеновской рефлектометрии и дифрактометрии

Определение характеристик многослойных структур NiMo/C, изготовленных методом реактивного магнетронного распыления

Прецизионная ориентировка монокристаллических подложек HPHT алмаза

Текстурный анализ медных облицовок, изготовленных методом сферодвижной штамповки

Фазовый анализ поликристаллических тонких пленок

Исследование морфологии поверхности

Исследование морфологии поверхности пластин монокристаллического HPHT алмаза

Исследование морфологии поверхности полупроводникового алмаза и алмазоподобного углерода

Исследование шероховатости подложек для рентгенооптических элементов

Методика получения Ge/Si(001) самоформирующихся нанопроволок для реализации на их основе дырочных спиновых кубитов

Морфология фталоцианиновых пленок в зависимости от температуры их нанесения

МСМ исследование деформированных ферромагнитных плёнок Co/Pt

Фемтосекундный нагрев металлов и генерация терагерцового излучения в разрушающих режимах

Формирование релаксированных SiGe/Si(001) буферных слоев методами газофазной и молекулярно-пучковой эпитаксии

Электронная микроскопия

Исследование магнитных наноструктур с неоднородными распределениями намагниченности методом лоренцевой просвечивающей электронной микроскопии

Исследование морфологии пленки YBaCuO, полученной методом магнетронного напыления

Исследование морфологии поверхности и профиля структуры InN/GaN/AlN/Al2O3 со слоем InN, выращенным при 470 °C и соотношении потоков III/V ~ 0.8.

Исследование профиля кремниевых полосок и дисков на подложке SiO2 после плазмохимического травления

Исследование с помощью просвечивающей электронной микроскопии поперечных сечений структурных характеристик и особенностей формирования многослойных пленочных наноструктур и приборов, рентгеновских зеркал и композитных структур

Исследование состава композитных структур методом просвечивающей электронной микроскопии

Определение латеральных размеров ферромагнитных наночастиц, изготовленных методом сканирующей электронной литографии

Определение формы и размеров ассиметричных перекрывающихся ферромагнитных дисков, изготовленных методом электронной литографии

Получение ультратонких образцов методом ионного травления ионами аргона для ПЭМ

Оптика и спектроскопия

Влияние температуры подложки на оптические свойства тонких пленок пигмента фталоцианина олова SnPc

Идентификация резонансных состояний акцепторов в объемных пленках на основе HgCdTe

Изменения в плёнках пигмента фталоцианина ванадила PcVO при освещении

Исследование излучательных свойств массивов упорядоченных SiGe квантовых точек, сформированных на структурированной поверхности Si(001)

Исследование излучательных свойств структур с самоформирующимися Ge(Si) наноостровками, встроенными в двумерные фотонные кристаллы с различными модами, в том числе с высокодобротными модами связанных состояний в континууме

Исследование спектров излучения оптически активных дефектно-примесных центров в Si

Исследование стимулированного излучения инжекционных лазерных структур на основе дисковых микрорезонаторов с квантовыми точками InGaAs/GaAs

Лазерное излучение в окне прозрачности атмосферы 3 – 5 мкм в микродисковых резонаторах с квантовыми ямами на основе HgCdTe

Многослойные зеркала на основе Cr/Ti для рентгеновской микроскопии в «окне прозрачности воды»

Модификация и полировка штриха голографической дифракционной решетки пучком нейтрализованных ионов Ar

Наблюдение коллективных мод в цепочках и массивах Si нанодисков с встроенными SiGe квантовыми точками

Определение характеристик многослойных структур Mo/Si, изготовленных методом реактивного магнетронного распыления

Спектры излучения терагерцевых квантовых каскадных лазеров в импульсном и непрерывном режимах работы

Стимулированное излучение в структурах на основе HgCdTe при комнатной температуре

Формирование и исследование люминесцентных свойств латеральных светоизлучающих диодов и транзисторов на основе Si структур с Ge(Si) наноостровками, излучающих в спектральном диапазоне 1.3-1.55 мкм

УСУ «Фемтоспектр»

Измерение кинетики фотоотклика узкозонных эпитаксиальных пленок InN

Изучение конкуренции излучательных и безызлучательных процессов в фотонно-кристаллических структурах с Ge(Si) наноостровками

Изучение оптических свойств гетероструктур с нитевидными нанокристаллами на основе AlGaAs

Новости 1 - 100 из 109
Начало | Пред. | 1 2 | След. | Конец