Получение тонких плёнок оксида галлия на подложках сапфира

Нанесение тонких пленок
В данной работе проведено исследование тонких плёнок оксида галлия, полученных методом атомно-слоевого осаждения (АСО). Оксид галлия осаждался на подложки сапфира с-среза и а-среза. Было установлено, что методом АСО при температурах до 300 °С на подложках сапфира обеих ориентаций получаются аморфные пленки. После осаждения проводился отжиг пленок при температуре 900 °С в атмосферах аргона и кислорода. Для пленок на а-срезе сапфира отжиг в обеих атмосферах привёл к формированию поликристаллической фазы β-Ga2O3. На полученные пленки осаждены встречно-штырьевые электроды и сформированы MSM структуры солнечно-слепых УФ-фотодетекторов и исследованы их фотоэлектрические характеристики.

Контактное лицо

Хрыкин Олег Игоревич, н.с.

khrykin@ipmras.ru

+7 (831) 417-94-50

Публикации

Юнин П. А., Архипова Е. А., Королёв С. А., Краев С. А., Хрыкин О. И., Королев Д. С. Получение и исследование свойств тонких плёнок оксида галлия и оксида никеля на подложках сапфира, тезисы докладов XXIX симпозиума «Нанофизика и Наноэлектроника», 2025 год, с. 432-433

Возврат к списку