GIXRD анализ керамик и тонких пленок
Серия 2θ-сканов (GIXRD) отражения (110) Ta для тонкой пленки тантала на кремниевой подложке при различных углах падения рентгеновского излучения на образец α от 0,3° до 3,5°
Рентгеновские дифрактограммы (GIXRD) отражений YAG (420) и YAP (121) керамик YAG, облученных быстрыми тяжелыми ионами (Xe, 150 МэВ), полученные при разном угле падения первичного рентгеновского пучка на образец α
Экспериментальные зависимости интенсивности отражения (420) YAG от угла падения и их аппроксимации, позволяющие оценить глубину нарушенного слоя после облучения ионами
Рентгеновская дифрактометрия в геометрии параллельного пучка со скользящим падением (Grazing incidence x-ray diffraction, GIXRD) позволяет проводить на дифрактометре Bruker D8 Discover анализ тонких пленок на поликристаллических и монокристаллических подложках. Фиксированный малый угол падения излучения на образец обеспечивает повышенную чувствительность к приповерхностным слоям поликристаллических фаз, позволяет отстроиться от интенсивного сигнала подложки. Варьирование угла падения позволяет менять информационную глубину анализа и проводить «послойный» фазовый анализ приповерхностных слоев поликристаллических материалов. Анализ угловых зависимостей интенсивностей дифракционных пиков позволяет реконструировать распределение по глубине поликристаллических фаз в приповерхностных слоях. Метод был успешно адаптирован и применен для анализа нарушенных слоев в облученных быстрыми тяжелыми ионами керамиках, перспективных для утилизации радиоактивных отходов.
Оборудование
Контактное лицо
Публикации
• M.E. Karaeva, D.O. Savinykh, A.I. Orlova, S.A. Khainakov, A.V. Nokhrin, M.S. Boldin, S. Garcia-Granda, A.A. Murashov, V.N. Chuvil’deev, P.A. Yunin, A.A. Nazarov, N.Y. Tabachkova, (Na, Zr) and (Ca, Zr) Phosphate-Molybdates and Phosphate-Tungstates: I–Synthesis, Sintering and Characterization, Materials, 16 (2023) 990.• M.E. Karaeva, D.O. Savinykh, A.I. Orlova, A.V. Nokhrin, M.S. Boldin, A.A. Murashov, V.N. Chuvil’deev, V.A. Skuratov, A.T. Issatov, P.A. Yunin, A.A. Nazarov, M.N. Drozdov, E.A. Potanina, N.Y. Tabachkova, (Na, Zr) and (Ca, Zr) Phosphate-Molybdates and Phosphate-Tungstates: II–Radiation Test and Hydrolytic Stability, Materials, 16 (2023) 965.
• П.А. Юнин, А.А. Назаров, Е.А. Потанина, Применение метода GIXRD для исследования нарушенных слоев в керамиках NaNd(WO4)2и NaNd(MoO4)2, подвергнутых облучению высокоэнергетическими ионами, Журнал технической физики, 92 (2022) 1137
• D.A. Mikhaylov, E.A. Potanina, A.V. Nokhrin, A.I. Orlova, P.A. Yunin, N.V. Sakharov, M.S. Boldin, O.A. Belkin, V.A. Skuratov, A.T. Issatov, V.N. Chuvil’deev, N.Y. Tabachkova, Investigation of the Microstructure of Fine-Grained YPO4:Gd Ceramics with Xenotime Structure after Xe Irradiation, Ceramics, 5 (2022) 237-252
• П.А. Юнин, Ю.Н. Дроздов, Н.С. Гусев Применение метода рентгеновской дифрактометрии скользящего падения для исследования пленок, Поверхность. РСНИ, 2018, №7, с. 74-77