Центр коллективного пользования
«Физика и технология микро- и наноструктур»

Наш телефон:
+7 (831) 417 94 55
Почтовая ссылкаckp@ipmras.ru
Главная   |   Карта сайта   |   Обратная связь   |   English version
Cканирующий зондовый микроскоп Solver PRO

Универсальный сканирующий зондовый микроскоп Solver PRO

Универсальный сканирующий зондовый микроскоп. Производство — НТ-МДТ (Россия).

Контактное лицо

Внешняя ссылкаГрибков Борис Александрович

Почтовая ссылкаbg@ipmras.ru

Основные характеристики

Параметры Тип сканирования
Сканирование образцом Сканирование зондом
Размер образца До 15×15×2 мм До 15×15×2 мм,
неограниченный с измерительной головкой, используемой в качестве выносной
Сканеры 15×15×1,5 мкм (±10%), 100×100×10 мкм (±10%)
Измерительные головки
АСМ
СТМ: 30 пA-50 нA, СКВ шум 4 пA (стандартный предусилитель);
10 пA-5 нA, СКВ шум 1.5 пA (низкотоковый предусилитель)		 АСМ
Система видеонаблюдения
Разрешение 5 мкм
CCD увеличение от 230x до 2900x
Система позиционирования образца
XY позиционирование образца 5×5 мм
Разрешение позиционирования образца разрешение — 5 мкм
минимальное перемещение — 2 мкм
Нагрев 130ºС
Виброизоляция Активная виброизоляционная система. Электрическое экранирование и акустическая изоляция обеспечиваются специальным литым металлическим колпаком.

Проводимые измерения

АСМ режим

Исследование рельефа поверхности образцов (в режиме АСМ и т. д.) с разрешением в плоскости образца порядка 10 нм (ограничено радиусом кривизны зонда) и порядка 1 ангстрема по вертикали. Возможность исследования электрических (ЭСМ, Сканирующая Емкостная Микроскопия, Кельвин-Зондовая Силовая Микроскопия и т. д.) и магнитных свойств (МСМ метод) поверхности с разрешением порядка 30нм.

СТМ режим

Проведение исследований рельефа поверхноси образцов и их электрических свойств в режиме СТМ с разрешением вплоть до атомарного уровня

Примеры измерений

МСМ изображение антивихревой структуры намагниченности вкрестообразной частице.

МСМ изображение вертикально намагниченных наночастиц CoPt сдиаметром 30нм. Ромбообразная структура на изображении получена припомощи локального перемагничивания наночастиц зондом МСМ.1

Оборудование ЦКП