
Производитель — Протон МИЭТ .
Королев Сергей Александрович

Микроскоп атомно-силовой CMM2000 — это высокоточный сканирующий зондовый микроскоп, предназначенный для исследования наноструктур и поверхностей с атомарным разрешением.
| Размер образца |
до 32×23×3 мм |
|
Максимальный размер поля сканирования |
до 18×18×2.5 мкм |
|
Разрешение |
по вертикали — до 0,1 нм, по горизонтали — до 1 нм |
|
Режимы работы |
контактный, полуконтактный, бесконтактный |
|
Зонды |
NSG30 (кремниевые кантилеверы с высокой жесткостью и золотым рефлектором) |
|
Система позиционирования |
пьезоэлектрический сканер с замкнутым контуром обратной связи |
Новиков Алексей Витальевич
Директор ИФМ РАН
Телефон: +7 (831) 4179465
Факс: +7 (831) 4179474
E-mail:
anov@ipmras.ru