Центр коллективного пользования
«Физика и технология микро- и наноструктур»

Наш телефон:
+7 (831) 417 94 55
Почтовая ссылкаckp@ipmras.ru
Главная   |   Карта сайта   |   Обратная связь   |   English version

О нашем центре

Региональный центр коллективного пользования аналитическим, экспериментальным и технологическим оборудованием «Физика и технология микро- и наноструктур» (ЦКП ИФМ РАН) создан в 2003 году приказом директора института физики мироструктур РАН в качестве научно-организационного внеструктурного подразделения института.

Целью создания ЦКП было повышение эффективности использования имеющегося в институте уникального оборудования при решении задач в области физики и технологии микро- и наноструктур научно-исследовательскими институтами и вузами нижегородского региона.

Центр выполняет


Исследования в ЦКП

Выполняется большой набор исследований микро- и наноструктур методами рентгеновской дифракции, аналитической электронной микроскопии, сканирующей зондовой микроскопии, оптической, микроволновой и рентгеновской спектроскопии, вторично-ионной масс-спектроскопии, электрофизические исследования полупроводниковых микроструктур, исследования магнитных и сверхпроводящих свойств плёнок и наноструктур, оптические прецизионные измерения.


ОБОРУДОВАНИЕ ЦКП

Дифрактометр рентгеновский Philips X'Pert PRO MRD
Дифрактометр рентгеновский PANalitical X'Pert PRO MRD
Дифрактометр рентгеновский Bruker D8 Discover
Стенд рентгеновской спектроскопии для диапазона 0.8-200 нм
Стенд спектральных измерений на основе лазерно-плазменного источника, 4-50 нм


Автоэмиссионный просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Carl Zeiss LIBRA-200MC
Сканирующий электронный микроскоп Carl Zeiss Supra 50VP
Двухлучевая система с высоким разрешением для исследования и подготовки образцов Carl Zeiss Neon 40


Cканирующий зондовый микроскоп NT-MDT Solver PRO
Cканирующий зондовый микроскоп NT-MDT Solver HV
Оптическая измерительная система Taylor & Hobson Talysurf CCI 2000
Профилометр модели 130


Комплекс фурье-спектроскопии высокого разрешения на основе BOMEM DA3.36
Фурье-спектрометр BRUKER Vertex 80V
Вторично-ионный масс-спектрометр IonTOF TOF. SIMS-5/100


Комплект для СВЧ-измерений сверхпроводников