ЦКП «Физика и технология микро-и наноструктур»
(831) 417 94 91
ckp@ipmras.ru
О ЦКП ИФМ РАН
Услуги
Оборудование
Результаты
УСУ "Фемтоспектр"
Порядок доступа
Научные методики
Пользователи
Документы
Институт физики микроструктур РАН
(831) 417 94 91
ckp@ipmras.ru
Исследование морфологии поверхности
Главная
Оборудование ЦКП
Исследование морфологии поверхности
Атомно-силовой микроскоп Протон-МИЭТ CMM2000
Оптический интерференционный микроскоп Talysurf CCI 2000
Профилометр Протон-МИЭТ модель 130
Сканирующий зондовый микроскоп Solver NEXT
Сканирующий зондовый микроскоп Solver PRO-HV
Сканирующий оптический микроскоп ближнего поля Ntegra Prima
