Сканирующий зондовый микроскоп Solver PRO-HV
Контактное лицо
Описание установки
Прибор позволяет получать атомно-силовые и магнитно-силовые изображения плёнок и паттернированных микро- и наноструктур. Подвод осуществляется столиком образца, что позволяет более точно позиционировать зонд.Услуги
Технические характеристики
Поле сканирования в плоскости 40×40 мкм;
Максимальное напряжение, прикладываемое к образцу 50 В;
Максимальное магнитное поле, прикладываемое к образцу 0.175 Тл;
Перемещение сканера по вертикали 10 мкм;
Латеральное разрешение 10 нм
Максимальное напряжение, прикладываемое к образцу 50 В;
Максимальное магнитное поле, прикладываемое к образцу 0.175 Тл;
Перемещение сканера по вертикали 10 мкм;
Латеральное разрешение 10 нм