Исследование морфологии поверхности с использованием сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-HV

Методы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии (АСМ, МСМ) применяются для характеризации качества и доменной структуры поверхностей. На первом проходе в прерывисто-контактном режиме снимается строка рельеф образца, на втором проходе зонд проходит эту же строчку, поднявшись на высоту 50 нм и повторяя рельеф — в этом случае взаимодействие зонд-образец определяется магнитостатическими силами, а на изображении строится изменение фазы колебаний зонда. Такая процедура проводится для каждой строчки. Последующая обработка изображений для АСМ изображений включает в себя построчное вычитание кривых второго порядка и восстановление линий, для МСМ изображения, помимо этого, применяется медианная фильтрация.