Сканирующий зондовый микроскоп Solver NEXT
Контактное лицо
Описание установки
Прибор позволяет получать атомно-силовые, магнитно-силовые и пьезо-силовые изображения плёнок и паттернированных микро- и наноструктур. Предусмотрена возможность локальной переполяризации пьезоэлектрика путём приложения к нему напряжения через зонд микроскопа. Столик образца размещён на магните, при помощи которого можно подать на образец перпендикулярное магнитное поле.Услуги
Технические характеристики
Поле сканирования в плоскости 40×40 мкм;
Максимальное напряжение, прикладываемое к образцу 50 В;
Максимальное магнитное поле, прикладываемое к образцу 0.175 Тл;
Перемещение сканера по вертикали 10 мкм;
Латеральное разрешение 10 нм
Максимальное напряжение, прикладываемое к образцу 50 В;
Максимальное магнитное поле, прикладываемое к образцу 0.175 Тл;
Перемещение сканера по вертикали 10 мкм;
Латеральное разрешение 10 нм