ЦКП «Физика и технология микро-и наноструктур»
(831) 417 94 91
ckp@ipmras.ru
О ЦКП ИФМ РАН
Услуги
Оборудование
Результаты
УСУ "Фемтоспектр"
Порядок доступа
Научные методики
Пользователи
Документы
Институт физики микроструктур РАН
(831) 417 94 91
ckp@ipmras.ru
Измерения электрических и магнитных свойств
Главная
Оборудование ЦКП
Измерения электрических и магнитных свойств
Комплекс стендов для измерения стационарных, импульсных и высокочастотных электрофизических характеристик полупроводниковых структур и приборов
Сканирующий зондовый микроскоп для магнитных и пьезоэлектрических измерений Smena-PFM-OM
Стенд для измерения магнитооптических эффектов Керра и Фарадея в тонких магнитных плёнках
Стенд для измерения электрофизических характеристик полупроводниковых структур на базе зондовой станции Semi Share SC-6
Стенд для холловских измерений транспортных свойств полупроводниковых структур
Стенд измерения фотоэлектрических и электрофизических характеристик тонкопленочных структур в контролируемой инертной атмосфере перчаточного ящика Torun-2GBS-OP