Сканирующий зондовый микроскоп для магнитных и пьезоэлектрических измерений Smena-PFM-OM

Контактное лицо

Скороходов Евгений Владимирович, с. н. с., к. ф.-м. н.

+7 (831) 417-94-88

Описание установки

Прибор позволяет получать атомно-силовые и магнитно-силовые изображения плёнок и паттернированных микро- и наноструктур, а также их спектры ферромагнитного резонанса. Столик образца размещён на магните, при помощи которого можно подать на образец латеральное магнитное поле. Прибор размещён в вакуумной камере, что позволяет существенно повысить чувствительность.

Услуги

Исследование распределения намагниченности или спектров ферромагнитного резонанса методом магнитно- резонансной силовой микроскопии с использованием сканирующего зондового микроскопа Smena-PFM-OM

Результаты

Исследование влияния обменного взаимодействия на резонансные свойства системы двух взаимодействующих магнитных вихрей

Технические характеристики

Поле сканирования в плоскости 40×40 мкм;
Вакуум 5×10^-3 Торр;
Максимальное магнитное поле, прикладываемое к образцу 0.32 Тл;
Перемещение сканера по вертикали 10 мкм;
Латеральное разрешение 10 нм;
Диапазон частот от 10 МГц до 10 ГГц
Глубина модуляции СВЧ излучения 100 %.

Возврат к списку