Стенд для измерения электрофизических характеристик полупроводниковых структур на базе зондовой станции Semi Share SC-6

Стенд включает в себя приборы для прецизионного измерения статических, импульсных и высокочастотных характеристик полупроводниковых структур и приборов в двух-, трёх- и четырёхтерминальной конфигурациях на пластине с использованием зондовой станции. Стенд позволяет проводить исследования сверхвысокочастотных полупроводниковых структур и приборов в диапазоне частот до 110 ГГц. Стенд обеспечивает возможность исследования полупроводниковых структур и приборов силовой электроники в диапазоне напряжений до 2000 В и в диапазоне токов до 16 A.  Оборудование стенда позволяет проводить исследования электрофизических характеристик при повышенных температурах в диапазоне до 350 °C.