Определение параметров многослойных зеркал в диапазоне экстремального ультрафиолета и мягкого рентгена на стендах ИФМ РАН
Прибор позволяет получать кривые зеркального отражения и диффузного рассеяния рентгеновского излучения и может быть применен для определения параметров (периода, шероховатости межслоевых границ, плотностей материалов) многослойных периодических структур и пленок с d ~ 0.8-100 нм. В том числе — распределение величины периода по поверхности зеркала.
Оборудование
Контактное лицо
Стоимость
7000 руб./час без НДСРезультаты
- Многослойные зеркала на основе Cr/Ti для рентгеновской микроскопии в «окне прозрачности воды»
- Модификация и полировка штриха голографической дифракционной решетки пучком нейтрализованных ионов Ar
- Определение характеристик многослойных структур Mo/Si, изготовленных методом реактивного магнетронного распыления
Заказчики
• Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики имени А. В. Гапонова-Грехова РАН• Институт физики микроструктур РАН
• Физический институт имени П. Н. Лебедева РАН
• Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского
