Дифрактометр рентгеновский PANalitical X'Pert PRO MRD

Дифрактометр рентгеновский PANalitical X'Pert PRO MRD
Дифрактометр рентгеновский PANalitical X'Pert PRO MRD

Контактное лицо

Полковников Владимир Николаевич, к.ф-м.н., зав. лаб.

polkovnikov@ipmras.ru

+7 (831) 417−94−58

Описание установки

Установка позволяет производить исследования кристаллических материалов и искусственных многослойных систем методом дифракции рентгеновских лучей, в том числе — малоугловой. Источником рентгеновского излучения с длиной волны Cu Kα 0.154 нм служит рентгеновская трубка (напряжение 30 кВ, ток 20 мА). Спектральная монохроматизация зондового пучка осуществляется с помощью четырехкристального асимметричного монохроматора Ge (220). Образец устанавливается на стол с 6-ю степенями свободы, что позволяет изучать локально по всей поверхности как плоские, так и изогнутые образцы. (Коллиматор Соллера, ограничивающий вертикальную расходимость, установлен за щелями детектора).

Технические характеристики

Характеристика Диапазон Точность
Горизонтальная расходимость пучка, º < 0,0053
Вертикальная расходимость пучка, º 1,15
Горизонтальная расходимость регистрируемого пучка, º 0,008-0,54
Вертикальная расходимость регистрируемого пучка, º 1,15
Угловое сканирование образца Θ, º -4,75 – +81,50 лучше 0,001
Угловое сканирование детектора 2Θ, º -9,50 – +163,0 лучше 0,001
Вращение образца Ф, º 360 0,01
Наклон образца Ψ, º 180 (±90) 0,01
Сканирование по X, мм 100 0,01
Сканирование по Y, мм 100 0,01
Сканирование по Z, мм 11 0,001
Максимальный размер образца, мм 100×100×24
Максимальный вес образца, кг 0,5

Возврат к списку