ЦКП «Физика и технология микро-и наноструктур»
(831) 417 94 91
ckp@ipmras.ru
О ЦКП ИФМ РАН
Услуги
Оборудование
Результаты
УСУ "Фемтоспектр"
Порядок доступа
Научные методики
Пользователи
Документы
Институт физики микроструктур РАН
(831) 417 94 91
ckp@ipmras.ru
Диагностика структуры и состава
Главная
Оборудование ЦКП
Диагностика структуры и состава
Вторично-ионный масс-спектрометр TOF.SIMS 5-100
Дифрактометр рентгеновский Bruker D8 Discover
Дифрактометр рентгеновский PANalitical X'Pert PRO MRD
Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр INCA