Спектроскопия фотолюминесценции ближнего ИК и видимого диапазона с временным разрешением до 100 пс и с пространственным разрешением до 2 мкм

Спектроскопия фотолюминесценции ближнего ИК и видимого диапазона с временным разрешением до 100 пс и с пространственным разрешением до 2 мкм при температуре 300 K

Спектроскопия фотолюминесценции ближнего ИК и видимого диапазона с временным разрешением до 100 пс и с пространственным разрешением до 2 мкм в интервале температур от 78 до 300 K.

Спектроскопия фотолюминесценции ближнего ИК и видимого диапазона с временным разрешением до 100 пс и с пространственным разрешением до 2 мкм в интервале температур от 4.2 до 300 K.

Изменение спектров эмиссии различных полупроводниковых структур, органических соединений и их комплексов, других материалов, излучающих в видимом и в ближнем инфракрасном (ИК) диапазонах (на длинах волн ~0.5-2.3 мкм). 

Имеющиеся источники когерентного излучения - как непрерывные, так и импульсные - дают возможности возбуждения фотолюминесценции (ФЛ) в широком диапазоне длин волн от ультрафиолета до ближней ИК-области. В зависимости от задачи (целевого спектрального диапазона и характерных времен релаксации ФЛ) могут быть применены различные методики детектирования, обеспечивающие высокое временное разрешение. Это прямая запись осциллограмм фотоотклика с использованием быстродействующих приемников (до 2 нс), коррелированный счет фотонов при использовании сверхпроводящего болометрического фотоприемника (до 70 пс), регистрация ФЛ при помощи стрик-камеры (до 6 пс) или по методике ап-конверсии (до 150 фс). 

Дополнительно может быть применена методика микро-ФЛ, обеспечивающая при возбуждении/регистрации ФЛ пространственное разрешение до 2 мкм. Это даёт возможности как детального анализа различных микроструктур, формируемых на подложке, так и, при необходимости, картирования изучаемых образцов в автоматизированном режиме.
Измерения могут проводиться как при комнатной температуре, так и при криогенных температурах (<10K), в том числе с проходом по температуре - с использованием гелиевых криостатов замкнутого цикла либо заливных / прокачных, минимизирующих вибрационные эффекты и обеспечивающих наилучшее качество измерений в режиме микро-ФЛ.