Анализ рельефа поверхности методом атомно-силовой микроскопии на микроскопе СММ 2000
Проводится исследование рельефа поверхности образца с нанометровым пространственным разрешением, которое включает в себя получение топографических изображений поверхности в разных режимах работы микроскопа и на разных геометрических масштабах, а также измерение геометрических размеров объектов на поверхности образца и статистических характеристик неоднородностей поверхности образца.
Оборудование
Контактное лицо
Стоимость
4000 руб./час без НДСРезультаты
Заказчики
• Институт физики микроструктур РАН• Институт прикладной физики им. А.В. Гапонова-Грехова РАН
• Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского
• АО «НПП «Салют»
• ООО «МеГа Эпитех»
• ООО «НЬЮ ДАЙМОНД ТЕХНОЛОДЖИ»
• АО "Воронежский завод полупроводниковых приборов - сборка"
• ФГУП "Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики"
• АО «СКАНДА РУС»
• Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского
• Институт органической и физической химии им. А.Е. Арбузова Казанского научного центра РАН
• Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН