Анализ поверхности с помощью сканирующей оптической ближнепольной микроскопии на микроскопе NTEGRA Prima

АСМ снимки поверхности образцов с (a) GeSi самоформирующимися островками и (b) Ge смачивающим слоем. Размер снимков 2х2 мкм, высота рельефа – см. цветовую шкалу.

В процессе оказания услуги производится исследование поверхности предоставленных образцов/структур методом сканирующей зондовой микроскопии. На используемом оборудовании существует возможность получать латеральное разрешение объектов/особенностей поверхности до 20 нм и до долей нанометров по высоте (например, атомарные ступени). В результате оказания услуги заказчику предоставляются снимки поверхности исследуемых образцов в виде массива данных, по договоренности производится стандартная обработка снимков, анализ данных.