Подготовка подложек и очистка образцов с использованием системы очистки с помощью кислородной плазмы
Подготовка поверхностей исследуемых образцов перед морфометрическим анализом в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) и удаление углеводородных загрязнений на внутренних компонентах вакуумных камер.
Контактное лицо
Стоимость
4200 руб./час без НДСЗаказчики
- Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики имени А. В. Гапонова-Грехова РАН
- или
- Институт физики микроструктур РАН
- Московский государственный университет им. Ломоносова
- Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е. Алексеева
- Саратовский государственный университет им. Чернышевского