Исследование дисперсионных характеристик низкоразмерных фотонных структур в геометрии диаграммы направленности со сканированием зоны Бриллюэна в к пространстве в интервале температур от 77 до 300 К
Описание методики исследования дисперсионных характеристик низкоразмерных фотонных структур в геометрии диаграммы направленности со сканированием зоны Бриллюэна …
Контактное лицо
Стоимость
10000 руб./час без НДСРезультаты
- Исследование излучательных свойств структур с самоформирующимися Ge(Si) наноостровками, встроенными в двумерные фотонные кристаллы с различными модами, в том числе с высокодобротными модами связанных состояний в континууме
- Исследование излучательных свойств массивов упорядоченных SiGe квантовых точек, сформированных на структурированной поверхности Si(001)
- Наблюдение коллективных мод в цепочках и массивах Si нанодисков с встроенными SiGe квантовыми точками
Заказчики
• Институт прикладной физики имени А.В. Гапонова-Грехова РАН• Институт физики микроструктур РАН
• Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН
• Новосибирский государственный университет
• Сколковский институт науки и технологий