Люминесцентный анализ (спектроскопия фотолюминесценции, электролюминесценции и стимулированного излучения) полупроводниковых и диэлектрических структур в температурном диапазоне от 4.2 до 300 К на фурье-спектрометре Bruker Vertex 80v
Люминесцентный анализ представляет собой комплекс современных спектроскопических методов исследования, направленных на изучение процессов фотолюминесценции, электролюминесценции и стимулированного излучения в твердотельных структурах. Исследование проводится при комнатной температуре (Т=300 К) с использованием вакуумного фурье-спектрометра Bruker Vertex 80v. Для подавления фонового теплового излучения окружающей среды при измерениях люминесценции в среднем ИК диапазоне используется режим пошагового сканирования.
Измерительный стенд на базе спектрометра Bruker Vertex 80 обеспечивает:
• Спектральное разрешение до 0.08 см-1
• Возможность проведения измерений в различных спектральных диапазонах
• Автоматизацию процесса сбора и обработки данных
• Прямую регистрацию сигнала люминесценции с временным разрешением до 5 нс по импульсу синхронизации
• Регистрацию сигнала с помощью модуляционной методики с синхронным детектированием
• Возможность вакуумирования оптического тракта для исключения влияния поглощения атмосферными газами на регистрируемые спектры
Измерительный стенд на базе спектрометра Bruker Vertex 80 обеспечивает:
• Спектральное разрешение до 0.08 см-1
• Возможность проведения измерений в различных спектральных диапазонах
• Автоматизацию процесса сбора и обработки данных
• Прямую регистрацию сигнала люминесценции с временным разрешением до 5 нс по импульсу синхронизации
• Регистрацию сигнала с помощью модуляционной методики с синхронным детектированием
• Возможность вакуумирования оптического тракта для исключения влияния поглощения атмосферными газами на регистрируемые спектры
Оборудование
Контактное лицо
Стоимость
9000 руб./час без НДСРезультаты
Заказчики
• Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе РАН• Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики имени А. В. Гапонова-Грехова РАН
• Институт физики микроструктур РАН
