Исследование формы поверхности на больших масштабах на контактном профилометре модели 130
Контактный профилометр позволяет исследовать шероховатость поверхности макроскопических образцов на больших масштабах (длина линии при единичном прохода – 12 мм). Измерения мелкомасштабной шероховатости проводятся относительно опоры на поверхность исследуемого образца. Метод не требует наличия зеркального отражения от исследуемой поверхности и подходит скорее для определения шероховатости обработанных металлических изделий. Хорошо работает на поверхностях с большими значениями шероховатости (>100 нм) и перепадами высот. Не подходит для анализа мягких материалов из-за воздействия алмазной иглы на поверхность образца.
Оборудование
Контактное лицо
Стоимость
2000 руб./час без НДСЗаказчики
- Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики имени А. В. Гапонова-Грехова РАН
- Институт физики микроструктур РАН
- Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского
- ООО «Газтурботэк»
