Исследование формы поверхности на больших масштабах на контактном профилометре модели 130

Исследование морфологии поверхности
Контактный профилометр позволяет исследовать шероховатость поверхности макроскопических образцов на больших масштабах (длина линии при единичном прохода – 12 мм). Измерения мелкомасштабной шероховатости проводятся относительно опоры на поверхность исследуемого образца. Метод не требует наличия зеркального отражения от исследуемой поверхности и подходит скорее для определения шероховатости обработанных металлических изделий. Хорошо работает на поверхностях с большими значениями  шероховатости (>100 нм) и перепадами высот. Не подходит для анализа мягких материалов из-за воздействия алмазной иглы на поверхность образца.

Контактное лицо

Юнин Павел Андреевич, зав. лаб., с.н.с. ИФМ РАН

yunin@ipmras.ru

+7 (831) 417−94−91

yunin_pavel

Стоимость

2000 руб./час без НДС

Заказчики

  • Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики имени А. В. Гапонова-Грехова РАН 
  • Институт физики микроструктур РАН 
  • Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского 
  • ООО «Газтурботэк»

Возврат к списку