Анализ распределений намагниченности в тонких пленках методом лоренцевой просвечивающей электронной микроскопии на микроскопе LIBRA 200 МС

Данная услуга позволяет визуализировать распределения намагниченности в тонкопленочных магнитных образцах. Ограничения реализованной методики в нашем микроскопе определяются тем, что прибор не имеет специальной объективной линзы, которая позволяет выполнять наблюдения в отсутствии внешнего магнитного поля. Минимальное значение магнитного поля в области расположения образца имеет величину около 100 Ое (по результатам собственных экспериментальных измерений). Изменяя величину тока в объективной линзе, меняя наклон образца к электронному пучку, можно проводить in-situ наблюдения изменений намагниченности образцов в широком диапазоне магнитных полей (до примерно 3 KOe).