Исследование состава образцов методом спектрометрии характеристических потерь электронов на микроскопе LIBRA 200 МС

Кластер силицида железа в кремниевой матрице. Элементная карта получена с помощью спектроскопии потерь энергии электронов на характеристических линиях поглощения

EELS спектры неупруго рассеянных электронов от скелетного кристалла TiC

Встроенный в колонну микроскопа энергетический спектрометр электронов ОМЕГА-типа значительно расширяет аналитические возможности микроскопа. Спектроскопия энергетических потерь электронов позволяет проводить качественный и количественный анализ состава образцов, что особенно актуально для обнаружения и анализа материалов, содержащих элементы с малым атомным номером (H, Be, C, O…). Кроме того, спектроскопия энергетических потерь электронов (EELS) дает детальную информацию об электронном состоянии и химических связях атомов образца. Наличие монохроматора электронов позволяет получать спектры с разрешением менее 0.2 Эв.