Анализ кристаллической структуры объектов методами высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии на микроскопе LIBRA 200 МС

Без использования просвечивающей (дифракционной) электронной микроскопии в настоящее время невозможно получение достоверной информации о тонкой структуре твердых тел и, прежде всего, реальной кристаллической структуре на уровне вплоть до атомного. В данном случае возможно получение большого набора изображений: стандартные изображения светлого и темного поля с дифракционным контрастом, микро- и нанодифракционные картины, изображения высокого разрешения кристаллических решеток с информационным пределом 0.14 нм. Встроенный энергетический ОМЕГА-фильтр позволяет существенно улучшить контраст дифракционных изображений удалением на них фона, обусловленного неупруго рассеянными электронами. Сбор и обработка полученной информации происходит с помощью программного обеспечения Gatan Microscopy Suite, для которого доступно использование большого набора свободно распространяемых скриптов.