ЦКП «Физика и технология микро-и наноструктур»
(831) 417 94 91
ckp@ipmras.ru
О ЦКП ИФМ РАН
Услуги
Оборудование
Результаты
УСУ "Фемтоспектр"
Порядок доступа
Научные методики
Пользователи
Документы
Институт физики микроструктур РАН
(831) 417 94 91
ckp@ipmras.ru
Услуги
Главная
Услуги
Диагностика структуры и состава
Наименование услуги (работы)
Стоимость работ в час (без НДС), руб.
Диагностика структуры и состава
Анализ тонких слоев методом рентгеновской рефлектометрии на дифрактометре Bruker D8 Discover
10000
Определение отклонения среза кристаллических подложек на дифрактометре Bruker D8 Discover
10000
Определение параметров многослойных зеркал с помощью рентгеновской рефлектометрии на дифрактометре X'Pert PRO MRD
8500
Послойный элементный анализ методом вторично-ионной масс-спектрометрии на установке TOF.SIМS 5-100
19000
Рентгеновский дифракционный анализ поликристаллических образцов на дифрактометре Bruker D8 Discover
10000
Рентгеновский дифракционный анализ эпитаксиальных слоев на дифрактометре Bruker D8 Discover
10000
Элементный анализ образцов с помощью энергодисперсионного рентгеновского спектрометра INCA
18000